混合信号分析仪集成度高,采样率1GSa/s,带宽500MHz,4M点深存储,采用8.4英寸800x600彩色大尺寸TFT显示屏,小巧便携,操作方便,该产品众多的模拟分析通道和逻辑分析通道可以对智能电子系统中的多个信号进行同步观测,既可以分析信号的数字码型,又可以分析信号的模拟参数,仪器强大的触发功能允许设置复杂的触发条件来准确定位用户关心的信号细节。
1、自动定标、自动校准
2、工业标准通讯脉冲模板
3、设置存储、波形存储、屏幕存储
4、丰富的测量功能：自动测量、光标测量
5、多信号同步观测：2模拟通道+16逻辑通道
6、丰富的分析功能：FFT分析、波形运算、波形直方图、工业串行协议
7、触发功能强大：边沿、码型、宽度、持续时间、TV、CAN、I2C、USB、SPI
8、具有LAN、RS232、USB、GP-IB、VGA等接口,支持USB接口打印机
利用AV4481混合信号分析仪,可以轻松同步观测多达18个信号,可对信号进行多种测量与分析,可进行屏幕存储、屏幕打印。
9、多信号同步观测
相对于2通道或4通道的数字存储示波器,该产品众多的模拟分析通道和逻辑分析通道可以对智能电子系统中的多个信号进行同步观测,既可以分析信号的数字码型,又可以分析信号的模拟参数,特别适用于嵌入式系统及外围电路的测试。
10、丰富的测量功能
在模拟通道上的峰峰值,,最小,平均,幅度,波顶,波底,过冲,预冲,RMS(DC),上升时间,下降时间,时间差等参数测量；在任何通道上的频率,周期,正脉冲宽度,负脉冲宽度,占空比等时间测量；手动或自动放置水平或垂直光标、光标读出等光标测量功能。
11、工业标准通讯脉冲模板
AV4481混合信号分析仪在模板功能菜单中可选择多种工业标准通讯脉冲模板,并可以进行自动设置。
12、屏幕存储
除可以进行设置存储和波形存储外,AV4481还可以轻松完成屏幕存储,存储的屏幕图片可以通过USB接口拷贝到移动存储介质,或通过以太网接口传输到PC用于用户报表。
13、屏幕打印
AV4481可以通过USB接口的打印机轻松完成屏幕打印功能,用于用户归档。
通道数模拟通道2逻辑通道16模拟通道特性采集系统取样率1GSa/s(每通道)记录长度4MB每个通道垂直分辨率8bit峰值检测1ns@采样率垂直系统等效带宽DC～500MHz(50Ω,≥10mV/div)DC～300MHz(50Ω,<10mV/div)DC～200MHz(1MΩ,<10mV/div)DC～300MHz(1MΩ,≥10mV/div)实时带宽DC～250MHz上升时间<700ps(50Ω,≥10mV/div)<1.2ns(50Ω,<10mV/div)<1.75ns(1MΩ,<10mV/div)<1.2ns(1MΩ,≥10mV/div)垂直灵敏度1mV/div～5V/div(1、2、5步进,1MΩ)1mV/div～1V/div(1、2、5步进,50Ω)耦合方式DC、AC(仅限1MΩ)通道隔离度>40dB(DC～50MHz)>30dB(50MHz～250MHz)输入电容1MΩ输入电容：12±2pF输入电阻50Ω±1%1MΩ±1%幅度测量准确度≥10mV/div±1.25%满刻度±2%读数±1LSB档＜10mV/div±1.25%满刻度±2%读数±1LSB±0.5mV偏移范围±1V(1mV～100mV/div)±10V(200mV～1V/div)±100V(2V～5V/div)模拟通道触发触发电平范围±6div,从屏幕中心触发灵敏度0.5div(DC～25MHz)1div(25MHz～250MHz)2div(250MHz～500MHz)最小触发脉冲宽度2ns逻辑通道特性采集系统取样率500MSa/s(每通道)存储器深度4MB垂直分辨率1bit毛刺检测5ns(最小脉冲宽度)垂直系统门限电平TTL、CMOS、ECL和用户定义门限分组：接口夹1,D7-D0接口夹2,D15-D8门限电平范围±5.0V,增量为10mV最小输入信号幅度500mVp-p输入动态范围±4V(相对于门限电平)输入电压±40Vp-p输入电阻20kΩ±2%输入电容12pF±5pF通道间时滞≤3ns水平系统扫描时间500ps/div～50s/div水平分辨率10ps延迟范围预触发大于1个屏幕或1ms后触发十格或50s取值时间测量准确度±(50ps+0.01%×△t读数+0.2%×屏幕宽度)触发系统工作模式自动、触发、单次触发方式边沿、码型、宽度、持续时间、TV、CAN、I2C、USB、SPI显示8.4英寸800×600彩色TFT接口LAN、RS232、USB、GP-IB、VGA电源AC,220V±10%,50Hz±5%环境适应性工作温度：0℃～50℃；存贮温度：-20℃～70℃；相对适度：5%－95%；无结露外形尺寸(385×225×260)mm重量约10Kg
混合信号分析仪是通用时域波形观测及分析仪器,可广泛应用于工业、农业等各领域的科研、生产、教育等环节,是各种电子系统测试必不可少的工具,特别适用于各种嵌入式系统及外围电路的测试。经过传感器的变换,也可以用于非电量的观测与分析。