在使用压电晶体传感器的测试系统中，电荷放大器是一种必不可少的信号适调器。它能够将传感器输出的微弱电荷信号转化为放大的电压信号，同时又能够将传感器的高阻抗输出转换成低阻抗输出。
在测试系统中，测试产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力即为可靠性。测试系统的每一部分都会不同程度的影响整个系统的可靠性，由于部分的失效引起的系统失效的概率也就不同。随着存储测试技术的发展，存储测试系统逐渐模块化、标准化和系列化。如果将一些功能模块制成ASIC，就会满足动态测试对测试装置的要求，并使存储测试系统可靠性得到极大地提高。图1为使用专用集成电路设计的存储测试系统。电荷放大器是测试系统中的一个串联环节，因此它的失效直接影响整个系统的失效。
图2为电荷放大器原理图。
压电晶体受到压力作用产生电荷Q；Ca是传感器级间电容，Qa是此时充到Ca中的电荷；Cc是传感器传输电缆的电容，Qc是此时充到Cc中的电荷，Gc是输入电缆漏电导；Ci是电荷放大器的输入电容，Qi是此时充到Ci中的电荷，Gi是放大器的输入电导；Ud是此时在运算放大器反相输入端上产生的差动电压；Cf是电荷放大器的反馈电容，作用到Cf两端的电压是Ud和输出电压U0的差值，Qf是此时充入Cf的电荷，Gf是放大器的反馈电导；运算放大器的开环系数为A，由于电压是反向输入，所以：U0=-A×Ud因此作用在Cf两端的电压为：Ucf=Ud-（-A×Ud）=Ud×（1+A）假设反馈电阻Rf的阻值为无限大：Q=Qa+Qc+Qi+Qf=Ud×（Ca+Cc+Ci+（1+A）Cf）所以
在精度的范围内可以忽略部分数量级小的部分，可以认为：
根据传感器的电荷灵敏度、量程和反馈的电容计算出输出的电压。